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錦州陽光氣象
數(shù)字式四探針測試儀是半導(dǎo)體材料的電阻性能測量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。...
少子壽命測試儀配備有紅外光源,可測量包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命...
PN級(jí)測試鑒別儀采用整流法和溫差法來判斷單晶(或多晶)硅的導(dǎo)電類型(N型或P型),顯示屏直接顯示導(dǎo)電類型。...
多角度激光橢偏儀使用632.8nm波長HeNe激光器,對測量薄膜厚度,折射率和吸收系數(shù)有非常出色的精度。儀器能夠分析單層膜,多層膜和大塊材料(基底)。...
該款硅片測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。...